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hast老化試驗箱國家標準產品詳情 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。

福永hast老化試驗箱容積產品技術參數： 控制方式：微電腦控制 時間控制：LED顯示器 加壓時間:0.00Kg～1.04Kgcm2約45分鐘內 壓力范圍：0~2.5Kg/cm2（內桶設計耐壓3.5Kg/cm2）

湖南hast老化試驗箱標準適用于國防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥等行業相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。

芯片高溫高濕高壓試驗箱用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗箱用途：使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。