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hast老化試驗箱國家標準

簡要描述:hast老化試驗箱國家標準產品詳情
用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-05-07
  • 訪  問  量:1020
詳情介紹

  hast老化試驗箱國家標準產品詳情

  用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。

  hast老化試驗箱國家標準技術參數:OK-HAST-30、OK-HAST-40、OK-HAST-50、OK-HAST-60

  規格內:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70

  溫度范圍:+100℃~132℃

  濕度范圍:可調75-100%RH飽和蒸氣固定

  壓力范圍:環境大氣壓+0.5—2kg/cm2

  hast老化試驗箱性能:操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.

  1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).

  2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).

  3.壓力范圍:0.5Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制點壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).

  4.時間范圍:0~999小時可調.

  5.溫度分布:(+/-)2.0℃.

  6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.(控制點溫度)

  7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內(控制點壓力)。

  hast老化箱國家標準控制系統:

  1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.

  2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…

  3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.

  4.控制方式:微電腦PID控制.

  5.控制精度:(+/-)0.5℃.

  6.解析精度:0.1℃.

  循環方式:飽和水蒸氣自然對流循環方式.

  溫度感應器:(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻).

  加溫電熱器:絕緣耐壓型溫度電熱器.

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