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pct高溫加速老化試驗箱

簡要描述:歐可pct高溫加速老化試驗箱可測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-05-07
  • 訪  問  量:807
詳情介紹

  pct高溫加速老化試驗箱可測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。

  高溫加速老化試驗箱技術優勢:

  1、采用全自動補充水位之功能,試驗不中斷、

  2、試驗過程的溫度、濕度、壓力,是讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽

  壓表計算出來的,能夠掌握實際的試驗過程。

  3、干燥設計,試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(待測品)的干燥,確保穩定性。

  4、壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。

  高溫加速老化試驗箱性能:

  1、測試環境條件4、2、測試方法環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

  2、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點)

  3、溫度波動度±0、5℃、

  4、溫度偏差±2、0℃、

  5、濕度范圍75%~100%R、H、(控制點)

  6、濕度波動度±2、5%R、H、

  7、濕度均勻度±5、0%、

  8、壓力范圍0、5~2㎏/㎝2(0、05~0、196MPa)(控制點)

  9、升溫時間常溫→+132℃35min、

  10、升壓時間常壓→+2㎏/㎝240min

  高溫加速老化試驗箱試樣限制本試驗設備禁止:

  易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。強電磁發射源試樣的試驗或儲存。

  pct高溫加速老化試驗箱用途:壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性,氣密性。

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