前   言

GB/T2423.3-2006為GB/T/2324《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第三部分。

本部分等同采用IEC60068-2-78:2001中《環(huán)境試驗(yàn)  第2-78部分:試驗(yàn)  試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》

（英文版）。

本部分刪除了IEC60068-2-78:2001中的“前言”的內(nèi)容。

本部分代替GB/T2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》及GB/T2423.9-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》。

主要變動(dòng)如下:

1. 本部分將原標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》及GB/T2423.9—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》這兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)合并為一標(biāo)準(zhǔn)，即GB/T2423.3—2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》;
2. 本部分在對(duì)試驗(yàn)箱的要求中明確規(guī)定短期的溫度波動(dòng)要保持在±0.5K范圍內(nèi)以保持所要求的濕度條件;
3. 本部分對(duì)試驗(yàn)箱的濕度容差統(tǒng)一規(guī)定為±3%;
4. 本部分比原來的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)增加了推薦的持續(xù)時(shí)間;
5. 本部分增加了附錄A。

本部分的附錄A為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化急速委員會(huì)歸口。

本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院。

本部分的主要起草人：王玲。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T2423.3—1981、GB/T2423.3—1993、GB/T2423.91989、GB/T2423.9—2001.